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聚焦瑞凱，傳遞環(huán)境檢測(cè)行業(yè)新動(dòng)態(tài)
瑞凱儀器
18 2021-09

風(fēng)風(fēng)雨雨-瑞凱儀器闖過(guò)的二十年！

瑞凱研發(fā)設(shè)計(jì)為一體，并細(xì)分為幾大設(shè)計(jì)方向，每個(gè)方向又設(shè)有專(zhuān)門(mén)的技術(shù)研發(fā)團(tuán)隊(duì)模塊，各模塊的設(shè)計(jì)結(jié)果匯總為一個(gè)整體。這樣既保證了產(chǎn)品的特性，還能達(dá)到產(chǎn)品的優(yōu)化。如今，瑞凱堪稱(chēng)是制造大廠，也基本上具備了多方面面進(jìn)軍制造強(qiáng)廠的條件。
半導(dǎo)體高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

半導(dǎo)體高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，半導(dǎo)體高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)涉及到半導(dǎo)體分立器件。在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，半導(dǎo)體高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)涉及到半導(dǎo)體分立器件綜合、電…
IC芯片等產(chǎn)品高溫測(cè)試失效原因分析

IC芯片等產(chǎn)品高溫測(cè)試失效原因分析

該產(chǎn)品的高溫失效問(wèn)題，與COB各材料都有著密切的關(guān)系:PCB、IC、邦定線(xiàn)、黑膠。但主要的原因是在IC質(zhì)量有缺陷的前提下…
高低溫試驗(yàn)箱箱體內(nèi)框架主體的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)

高低溫試驗(yàn)箱箱體內(nèi)框架主體的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)

本文設(shè)計(jì)的高低溫試驗(yàn)箱箱體的內(nèi)部工作環(huán)境為非真空狀態(tài)，工作溫度范圍廣，內(nèi)部空間尺寸跨度較大，對(duì)內(nèi)框架的設(shè)計(jì)提出了挑戰(zhàn)。如…
PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱價(jià)格

PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱價(jià)格是多少？

PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱是磁性材料、電子元器件、光電組件等領(lǐng)域常用的測(cè)試設(shè)備，其工作原理是通過(guò)微電腦控制系統(tǒng)智能迅速的產(chǎn)…
電子產(chǎn)品滿(mǎn)載高低溫老化試驗(yàn)方法

電子產(chǎn)品滿(mǎn)載高低溫老化試驗(yàn)方法

各種電子設(shè)備都是有工作環(huán)境溫度的要求，所以我們要模擬環(huán)境高低極限溫度做滿(mǎn)載老化試驗(yàn)，以保證電源能在環(huán)境溫度下正常工作。如…
高溫老化試驗(yàn)工藝作業(yè)指導(dǎo)書(shū)

高溫老化試驗(yàn)工藝作業(yè)指導(dǎo)書(shū)

為提高產(chǎn)品可靠度,消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境，以鑒別和剔除產(chǎn)品工藝和元件引起的早期故障，確保整機(jī)優(yōu)秀…

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