芯片（IC）可靠性測試好幫手——瑞凱儀器HAST試驗箱系列
作者：
salmon范
編輯：
瑞凱儀器
來源：
klmsg.cn
發(fā)布日期： 2021.08.04
芯片是電子信息產品重要的元器件，是高端制造業(yè)的是核心基石！幾乎每種電子設備，電腦、手機、家電、汽車、高鐵、電網、醫(yī)療儀器、機器人、工業(yè)控制等都使用芯片。
由此可知，芯片在我們日常生活中充當了極其重要的角色，當然其品質也受到了人們的高度重視，但你知道一塊芯片需要做哪些環(huán)境可靠性測試呢？
瑞凱儀器來告訴你吧。
1、高低溫試驗：模擬IC在使用之前在一定濕度，溫度條件下存儲的耐久力，也就是IC從生產到使用之間存儲的可靠性。
2、高溫高濕試驗（THB）：評估IC產品在高溫，高濕，偏壓條件下對濕氣的抵抗能力，加速其失效進程。
3、高壓蒸煮試驗（PCT）：評估IC產品在高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力，加速其失效過程。
4、高低溫循環(huán)試驗（TCT）: 評估IC產品中具有不同熱膨脹系數的金屬之間的界面的接觸良率。方法是通過循環(huán)流動的空氣從高溫到低溫重復變化。
5、高溫儲存試驗（HTST）: 評估IC產品在實際使用之前在高溫條件下保持幾年不工作條件下的生命時間。
此外，還有一個為重要的性能測試，即高加速溫濕度及偏壓測試（HAST），評估IC產品在偏壓下高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力，加速其失效過程。
可是怎么知道芯片是否存在失效呢？
那當然要使用瑞凱儀器所研制的HAST試驗箱啦！
瑞凱HAST試驗箱主要應用于芯片、半導體器件、金屬材料領域，通過爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。一般通過施加嚴酷的溫度、濕度和偏置條件來加速潮氣穿透外部保護材料（灌封或密封）或外部保護材料和金屬導體的交接面。
HAST試驗箱特征：
1、可定制BIAS偏壓端子組數，提供產品通電測試；
2、通過電腦安全便捷的遠程訪問；
3、多層級的敏感數據保護；
4、便捷的程序入口、試驗設置和產品監(jiān)控；
5、試驗數據可以導出為Excel格式并通過USB接口進行傳輸；
6、可提供130℃溫度、濕度85%RH和230KPa大氣壓的測試條件；
7、出色的溫濕度精密控制邏輯，防止待測品潮濕與結露的模式選擇；
8、壓力值采實際感應偵測，確保溫度、濕度及壓力值準確度。
芯片不僅僅要進行環(huán)境可靠性測試，每一步品質檢測關卡都要嚴格把控，只有符合所有性能要求的芯片才能算得上是品質優(yōu)良，真正確保電子產品的穩(wěn)定性和安全性。
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